前 CEO 帕特・基辛格肯定英特尔制程团队工作，称良率不应简单以百分比衡量

据报道，英特尔公司于本月 2 日宣布首席执行官帕特・基辛格将退休并辞去董事会职务。离职后，帕特・基辛格仍然对英特尔公司保持关注，并在社交媒体上对其18A工艺的质量进行了回应。详细信息请点击此处。

帕特・基辛格在任职期间一直关注先进制程领域，他曾表示公司的成功与18A制程质量息息相关。更多细节请点击此处。

有报道称英特尔的18A工艺不足10%，导致博通取消了采用其代工的计划。然而，行业分析师Patrick Moorhead表示这些报道是“假新闻”，因为博通并未在测试芯片中使用正式的1.0版PDK。

帕特・基辛格对Patrick Moorhead“澄清事实”的行为表示感谢，并对英特尔18A技术开发团队的工作表示自豪。

帕特・基辛格最近在评论台积电2nm试产良率时指出，由于大芯片和小芯片的质量存在差异，用百分比衡量良率并不准确。

他认为，在不知道芯片尺寸的情况下，用良品率百分比评估半导体的健康状况是不合适的。

英特尔公司曾表示，每平方厘米18A工艺缺陷数量已小于0.40。外媒根据SemiAnalysis提供的芯片良率计算器，应用Murphy's Model良率模型进行了计算。

• 如果生产光罩尺寸大小的芯片，则良率仅为7.95%；

• 生产10×10 mm的芯片，良率将接近68%；

• 制作英特尔酷睿Ultra 200S处理器8+16核CPU模块同规模芯片，良率为63.78%。

可以看出，芯片尺寸是影响良率的重要因素。

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